Scheda Tecnica
Scheda Tecnica
Cod. 49_07 Fornitura di 2 microscopi in scansione
1) FEG-SEM
Caratteristica | Descrizione |
FEG-SEM | Microscopio Elettronico a Scansione con Sorgente a Emissione di Campo, accessoriato con sistema di microanalisi EDS, e dotato, oltre ai rivelatori principali, di uno specifico rivelatore BSE assiale a 4 vie indipendenti, e della funzionalità STEM. Il microscopio deve essere sotto completo controllo computerizzato, ed il software di controllo deve essere completo e completamente documentato. L’accesso al software e la possibilità di validarne eventuali modifiche devono essere esplicitamente garantiti, eventualmente a valle della sottoscrizione di un accordo di riservatezza tra le parti. Lo strumento deve essere di nuova generazione. |
Sorgente | Ad emissione di campo a catodo termo-assistito di tipo Schottky |
Tempo di vita garantito della sorgente | almeno 12 mesi |
Tensione di accelerazione minima | 100 V o inferiore |
Tensione di accelerazione massima | 30 kV o superiore |
Corrente di fascio massima | 20 nA o superiore |
Corrente di fascio minima | 5 pA o inferiore |
Regolazione corrente di fascio | Continua |
Risoluzione | 1.0 nm a 15 keV o migliore 1.8 nm a 1 keV o migliore |
Ingrandimento minimo | 50x o inferiore |
Rivelatori standard | In-lens SE Xxxxxxxx – Xxxxxxxx IR-CCD |
Impianto da vuoto | Oil free. Tempo di evacuazione breve. |
Camera di lavoro | Ampie dimensioni |
Movimentazione | Tavolino traslatore eucentrico motorizzato su 5 assi ( X,Y;Z; Tilt e rotazione ) con ampia escursione e alta riproducibilità. |
Controllo del sistema | Computer di supporto. DVD R/RW e scheda ethernet . Sistema Windows XP Imaging 6Mpixels o migliore Scripting interface per automazione e telecontrollo Disponibilità API |
Garanzia comprensiva del | 1 anno o maggiore |
costo dei pezzi di ricambio | |
Assistenza | Tempi di intervento garantiti per la manutenzione ordinaria e per gli interventi straordinari. |
Accessori e opzioni valutabili oltre la configurazione minima: | 1) STEM BF/DF 2) BSE a 4 settori indipendenti, ad alta velocità 3) Microanalisi EDS per analisi fino al Boro e software analitico 4) Estensione del campo di funzionalità (es. basso vuoto) 5) Sottoscrizione di un patto per il rilascio di informazioni anche riservate (dietro reciproca sottoscrizione di patti di riservatezza) strettamente funzionali allo sviluppo delle applicazioni di tele microscopia. |
2) SEM A PRESSIONE VARIABILE
Caratteristica | Descrizione |
SEM A PRESSIONE VARIABILE | Microscopio Elettronico a Scansione in grado di operare sia in condizioni di alto vuoto che di pressione variabile, dotato di rivelatori principali. Il microscopio deve essere sotto completo controllo computerizzato, ed il software di controllo deve essere completo e completamente documentato. L’accesso al software e la possibilità di validarne eventuali modifiche devono essere esplicitamente garantiti, eventualmente a valle della sottoscrizione di un accordo di riservatezza tra le parti. Lo strumento deve essere di nuova generazione. |
Sorgente | Tungsteno (W) |
Tempo di vita garantito della sorgente | Almeno 100 ore |
Tensione di accelerazione minima | 200 V o inferiore |
Tensione di accelerazione massima | 30 kV o superiore |
Regolazione corrente di fascio | Continua |
Risoluzione | In alta tensione (30kV) almeno 3,5nm in modalità pressione variabile – garantiti almeno 5,0nm |
Range di Pressione | variabile |
Ingrandimento minimo | 10x o inferiore |
Rivelatori | Rivelatore di elettroni secondari in alto vuoto. Secondo rivelatore di elettroni secondari in grado di operare in modalità pressione variabile. Rivelatore di elettroni retrodiffusi. |
Impianto da vuoto | Adeguato sistema da vuoto pulito, preferibilmente composto da pompa rotativa, pompa turbomolecolare. |
Camera di lavoro | Camera di lavoro di ampie dimensioni |
Movimentazione | Tavolino traslatore motorizzato su almeno 4 assi, con escursioni in X e Y non inferiori ai 50 mm, alta riproducibilità. |
Controllo del sistema | Computer di supporto. DVD R/RW e scheda ethernet. Sistema Windows XP o superiore. Imaging 6Mpixels o migliore |
Scripting interface per automazione e telecontrollo Disponibilità API | |
Microanalisi EDS | Predisposizione per interfacciamento con sistema EDS. |
Garanzia | 1 anno o maggiore. Completa di costo dei pezzi di ricambio. |
Assistenza | Tempi di intervento garantiti per la manutenzione ordinaria e per gli interventi straordinari. |
Accessori e opzioni valutabili oltre la configurazione minima: | - Sorgente in LaB6; - Sottoscrizione di un patto per il rilascio di informazioni anche riservate (dietro reciproca sottoscrizione di patti di riservatezza) strettamente funzionali allo sviluppo delle applicazioni di tele microscopia. |
3) ULTERIORI SERVIZI RICHIESTI PER I MICROSCOPI INDICATI AI PUNTI 1) E 2)
Caratteristica | Descrizione |
Corso di formazione | Corso completo di formazione per 2 persone per ogni strumento |